本文標題:掃描電子顯微鏡工作距離與歷史
信息分類:站內新聞 新聞來源：未知 發布時間：2014-4-10 10:05:38
掃描電子顯微鏡工作距離與歷史
掃描電子顯微鏡工作距離指從物鏡到樣品最高點的垂直距離。增加距
離可以在條件不變的情況下獲得更大的場深。減少距離則可以在其不
變的情況下獲得更高的分辨率。
成象次級電子和背散射電子可以用于成象，但后者不如前者，所以通
常使用次級電子。表面分析歐革電子、特征X射線、背散射電子的產
過程均與樣品原子性質有關，所以可以用于成分分析。但由于電子束
只能穿透樣品表面很淺的一層（，所以只能用于表面分析。
表面分析以特征射線常用到的探測器有兩種：能譜分析儀與波譜分析
儀。前者速度快精度不高，后者精確檢測到痕跡元素但耗時太長。
1929 年諾貝爾物理獎得主提出電子本身具有波動的物理特性， 進一
步提供電子顯微鏡的理論基礎。1926發現電子可像光線經過玻璃透鏡
偏折一般， 由電磁場的改變而偏折。
1931德國物理學家首先發展出穿透式電子顯微鏡原型機。1937原型機
制造成功。 1938 第一部掃描電子顯微鏡發展成功。1938穿透式電子
顯微鏡正式上市
1940推出美國第一部穿透式電子顯微鏡。1958年中國科學院組織研制
， 1975年第一臺掃描電子顯微鏡在中國科學院科研發成功。1980年
引進美國技術，開發了掃描電鏡。
將本頁加入收藏
下一篇：顯微鏡的興起發展歷史
上一篇：掃描電子顯微鏡工作原理
本文出自上海永亨光學儀器有限公司，本文地址：http://www.cwqbp.com/xinwen/790.html
工業顯微鏡測量顯微鏡視頻顯微鏡專業的供應商
合作伙伴：http://www.xianweijing.org/顯微鏡百科
- 沒有資料
